近日，美国电气和电子工程师协会（IEEE）在瑞典哥德堡举行了IEEE/IEC（国际电工委员会）工作组会议，来自中国、美国、法国等40余位代表参加会议。本次会议就IEC /IEEE双LOGO标准的制定，尤其是IEC/IEEE323和60780标准的制定进行了讨论，并就日本福岛核泄漏事故对国际核电发展的影响和应对措施进行了探讨。

       上海核工程研究设计院、上海工业自动化仪表研究院（SIPAI）作为我国特邀代表首次参加IEEE工作会议，并分别作了题为“中国的核电发展和监管程序”和“SIPAI的设备鉴定能力”的大会主题报告，报告内容受到了与会各国代表的特别关注，对我国核电监管的力度和设备鉴定的能力印象深刻。此外，经大会初步表决，IEEE/NPEC的2013年年会有望在上海举办。目前核电I&C设备鉴定标准在世界范围内主要有IEC和IEEE两大体系，IEC/IEEE双LOGO标准的颁布将有利于设备供应商进行设备鉴定工作。